M/K 3D地層測試儀可測量紙張、玻璃纖維、紙板、紙巾和毛巾以及許多其他片狀材料的地層。除了測量地層指數外，M/K還可以精確測量板材內部的缺陷和絮凝物，以及低密度袋，基重和內部標準偏差。與攝像系統不同，我們的設備使用激光類型的聚焦光束來精確測量薄片上每個像素的光密度。測試所有等級的紙：粘結紙、襯紙、再生紙、復印紙、銅版紙、彩色紙或任何其他等級的紙。在一次測試中，M/K地層測試儀掃描了320cm2 (16cm x 20cm)的大區域，每個像素都是獨立測量的。沒有其他臺式地層測試器可以匹配這一掃描區域，因為相機系統的掃描范圍僅限于大約1“x1"區域，存在光反射問題。M/K地層分析儀采用獨立的像素掃描方法，避免了所有相機系統都會出現的光散射問題。我們還包括一個功能，允許用戶將光學靈敏度從低設置更改為超高設置，允許您過濾掉不太重要的絮凝體和片材缺陷。除了透射分析，我們還提供了一套可選的表面掃描光學元件，可以表征您的板材表面。比較鋼絲面和毛氈面容易可靠。

　　采用新的“高分辨率"技術，將掃描分辨率提高了一倍。現在的高分辨率掃描具有高的分辨率，包括多達128種不同尺寸的絮凝體。

　　一些行業zhuanli參考包括：

　　1.施樂公司，#美國zhuanli#5,935,689，“打印方法"。

　　2.寶潔公司，美國zhuanli#6,114,471，“強化紙"。

　　3.金伯利·克拉克，美國zhuanli# US 7,258,758，“強化非織造布"。

　　4.Rayonier，美國zhuanli#8,497,410“制造吸收性產品的方法"。

　　5.Newpage，美國zhuanli#8,727,528，“用于噴墨打印的光滑記錄介質"。